Pat
J-GLOBAL ID：201003086184737785
画像処理装置、画像処理プログラムおよび画像処理方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009005966
Publication number (International publication number)：2010166247
Application date： Jan. 14, 2009
Publication date： Jul. 29, 2010
Summary：
【課題】異なる焦点位置で撮像した複数の被写体画像から画素毎に合焦している焦点位置の被写体画像を適切に判定し、全体的に焦点の合った全焦点画像を精度良く生成すること。【解決手段】画像処理装置3は、顕微鏡2で撮像された焦点位置の異なる複数の標本画像を処理して全焦点画像を生成する。このとき、エッジ部分合焦判定部352は、エッジ部分の画素の各標本画像それぞれにおける輝度変化量をもとに、この画素における合焦位置の標本画像を判定する。エッジ近傍合焦判定部353は、エッジ部分の近傍画素の各標本画像それぞれにおける輝度値の焦点位置の変位に伴う変化をもとに、この画素における合焦位置の標本画像を判定する。全焦点画像生成部355は、エッジ部分の画素およびエッジ部分の近傍画素の画素値を合焦位置と判定された標本画像から抽出して合成し、全焦点画像を生成する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
異なる焦点位置で所定の被写体領域を撮像した複数の被写体画像を取得し、前記複数の被写体画像をもとに全焦点画像を生成する画像処理装置であって、
被写体のエッジ部分の画素を注目画素とし、前記複数の被写体画像それぞれにおける前記注目画素の周辺の輝度変化量をもとに、前記注目画素において合焦している焦点位置の被写体画像を判定するエッジ部分合焦判定手段と、
前記エッジ部分の近傍画素を注目画素とし、前記複数の被写体画像それぞれにおける前記注目画素の輝度値の前記焦点位置の変位に伴う変化をもとに、前記注目画素において合焦している焦点位置の被写体画像を判定するエッジ近傍合焦判定手段と、
前記エッジ部分の画素の画素値を前記エッジ部分合焦判定手段が合焦していると判定した焦点位置の被写体画像の画素値とし、前記エッジ近傍の画素の画素値を前記エッジ近傍合焦判定手段が合焦していると判定した焦点位置の被写体画像の画素値として合成し、全焦点画像を生成する全焦点画像生成手段と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (13)：
2H051DA22
, 2H051EB20
, 2H151DA22
, 2H151EB20
, 5C122DA13
, 5C122EA22
, 5C122EA37
, 5C122FC09
, 5C122FH01
, 5C122FH03
, 5C122FH18
, 5C122FH23
, 5C122HB01
Cited by applicant (1)
-
立体形状検出方法及びその装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-204478
Applicant：株式会社日立製作所
Return to Previous Page
