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J-GLOBAL ID：201003089278188164

質量分析装置および質量分析方法

Inventor： 吉岡 信二 ,  竹田 明弘 ,  師子鹿 司
Applicant, Patent owner： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Agent (2)： 井上 学 ,  戸田 裕二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008191580
Publication number (International publication number)：2010032227
Application date： Jul. 25, 2008
Publication date： Feb. 12, 2010
Summary：

【課題】 検出可能なフラグメントイオンのピークの数を増やした、電子捕獲解離を用いる質量分析装置を提供する。【解決手段】 本発明の質量分析装置は、試料からイオンの生成を行うイオン源2と、イオンの蓄積および選択を行うイオントラップ部3と、イオンを電子捕獲解離するイオン解離部4と、イオンの質量分析を行う飛行時間質量分析部7と、を備えた質量分析装置であって、質量分析を行ったイオンの価数に応じて電子捕獲解離の反応時間が可変である。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料からイオンの生成を行うイオン源部と、 イオンの蓄積および選択を行うイオントラップ部と、 イオンを電子捕獲解離するイオン解離部と、 イオンの質量分析を行う質量分析部と、を備えた質量分析装置であって、 質量分析を行ったイオンの価数の大きさに応じて前記電子捕獲解離の反応時間が可変であることを特徴とする質量分析装置。

IPC (4)：

G01N 27/64 ,  H01J 49/42 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/40

FI (4)：

G01N27/64 C ,  H01J49/42 ,  H01J49/06 ,  H01J49/40

F-Term (18)：

2G041CA01 ,  2G041CA03 ,  2G041DA05 ,  2G041EA04 ,  2G041EA12 ,  2G041FA12 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA10 ,  2G041HA01 ,  2G041KA01 ,  2G041LA07 ,  5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ05 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米国特許第4736101号
  
• 電子捕獲解離反応装置及び電子捕獲解離を備えた質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-160861   Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ