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J-GLOBAL ID:201003089562422452

金属微粒子を用いた質量分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010125259
Publication number (International publication number):2010185886
Application date: May. 31, 2010
Publication date: Aug. 26, 2010
Summary:
【課題】本発明の課題は、金属に結合した自己組織化膜表面上での化学反応を高感度かつ正確に解析でき、将来の糖鎖構造解析に応用できる新しい質量分析法を提供することにある。【解決手段】本発明によれば、金属が硫黄原子を介して有機残基と結合した金属-有機残基複合体から該硫黄原子を含む有機残基誘導体をイオン化することを特徴とする、該硫黄原子を含む有機残基誘導体を質量分析する方法、が提供される。このことにより、上記課題が解決される。【選択図】なし
Claim (excerpt):
一般式(II): R-SH (II) (式中、Rは有機残基であり、Sは硫黄原子である)で表される化合物もしくはその塩; 一般式(III): R-S-S-R (III) (式中、RおよびSは前記と同意義である)で表される化合物もしくはその塩; 一般式(V): HS-X-CH(R)-SH (V) (式中、RおよびSは前記と同意義であり、Xは低級アルキレンまたは低級アルケニレン である)で表される化合物もしくはその塩; 一般式(VI):
IPC (1):
G01N 27/62
FI (1):
G01N27/62 V
F-Term (4):
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041FA10 ,  2G041JA09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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