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J-GLOBAL ID：201003090929005991

非線形ラマン散乱光測定装置

Inventor：
長谷川 一英

About 長谷川 一英


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008160175
Publication number (International publication number)：2010002254
Application date： Jun. 19, 2008
Publication date： Jan. 07, 2010
Summary：
【課題】非線形ラマン散乱光測定装置において、被検体を構成する分子を効率良く分析できるようにする。【解決手段】広帯域ストークス光照射部41により、ポンプ光Lpと広帯域ストークス光Lswとを被検体1へ同時に照射する。この照射を受けた被検体1から発せられる非線形ラマン散乱光Lcwのスペクトルをスペクトル取得部60が取得して被検体1を構成する複数種類の分子が特定される。その後、狭帯域ストークス光照射部42により、特定された複数種類の分子のうちの一部の分子を分析するための、広帯域ストークス光Lswの波長範囲内のより狭い波長範囲に定められた1つ以上のピーク波長を持つ狭帯域ストークス光Lsnとポンプ光Lpとを被検体1へ同時に照射する。この照射を受けた被検体1から発せられる非線形ラマン散乱光Lcnのスペクトルをスペクトル取得部60が取得して前記一部の分子が分析される。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
ポンプ光と該ポンプ光よりも波長が長くエネルギの小さいストークス光とを被検体に同時に照射するための光照射手段と、 前記照射を受けた前記被検体から発せられる非線形ラマン散乱光のスペクトルを取得するスペクトル取得手段とを備えた非線形ラマン散乱光測定装置であって、 前記光照射手段が、前記被検体を構成する複数種類の分子を特定するための広帯域のストークス光を照射する広帯域ストークス光照射手段と、前記特定された複数種類の分子のうちの一部の分子を分析するための、前記広帯域のストークス光の波長範囲内のより狭い波長範囲に定められた1つ以上のピーク波長を持つ狭帯域のストークス光を照射する狭帯域ストークス光照射手段とを有するものであることを特徴とする非線形ラマン散乱光測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/65
FI (1)：
G01N21/65
F-Term (20)：
2G043AA01 ,  2G043AA04 ,  2G043BA16 ,  2G043CA05 ,  2G043EA03 ,  2G043EA04 ,  2G043FA06 ,  2G043GA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA04 ,  2G043JA08 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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