Pat

J-GLOBAL ID：201003097812843508

質量分析用デバイス及びそれを用いた質量分析装置、質量分析方法

Inventor： 納谷 昌之 ,  村上 直樹
Applicant, Patent owner： 富士フイルム株式会社
Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008244029
Publication number (International publication number)：2010078346
Application date： Sep. 24, 2008
Publication date： Apr. 08, 2010
Summary：

【課題】表面支援レーザ脱離イオン化質量分析法において、測定光の低パワー化を実現し、難揮発性の物質や高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。【解決手段】質量分析用デバイス1は、表面1sにて開口した微細孔20を複数有する基材10を備え、表面1sに接触させた試料に測定光L1を照射することにより、試料中に含まれる被分析物質Sを表面1sから脱離させるものであって、微細孔20の側壁面20aに凹部21が形成されたデバイス構造を有している。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

表面に開口した微細孔を複数有する基材を備え、前記表面に接触させた試料に測定光を照射することにより、該試料中に含まれる被分析物質を前記表面から脱離させる質量分析用デバイスであって、 前記微細孔の側壁面に凹部が形成されていることを特徴とする質量分析用デバイス。

IPC (2)：

G01N 27/64 ,  G01N 27/62

FI (2)：

G01N27/64 B ,  G01N27/62 F

F-Term (6)：

2G041CA01 ,  2G041DA02 ,  2G041EA01 ,  2G041JA06 ,  2G041JA08 ,  2G041JA16

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• MALDI-TOF質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-158866   Applicant：株式会社島津製作所
• 米国特許第2008/0073512号明細書
  
• 米国特許第2006/0157648号明細書