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J-GLOBAL ID：201003098686978407

異常検知方法及び異常検知システム

Inventor：
前田 俊二

About 前田 俊二

, 
渋谷 久恵

About 渋谷 久恵


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 特許業務法人第一国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009033380
Publication number (International publication number)：2010191556
Application date： Feb. 17, 2009
Publication date： Sep. 02, 2010
Summary：
【課題】観測データの異常を検知するための正常事例の学習データを取捨選択して精度をあげる学習データの生成方法により、ユーザ負荷を軽減し、さらに早期に異常を高感度に検知することが可能な異常検知方法および異常検知方法システムを提供する。【解決手段】(1)データ間の類似度に着目し、正常事例からなるコンパクトな学習データを生成、(2)類似度と異常有無により、新規データを学習データに追加、(3)設備のアラーム発生区間を学習データから削除、(4)随時更新された学習データを部分空間法でモデル化し、観測データと部分空間の距離関係に基づき、異常候補を検知、(5)イベント情報を対象にした解析を組み合わせて、異常候補から異常を検知、(6)学習データの活用頻度分布に基づいて、観測データの乖離度を求め、観測データの異常要素(センサ信号)を特定する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
プラントまたは設備の異常を早期に検知する異常検知方法であって、 複数のセンサからデータを取得し、 データ間の類似度に基づき、データ間で類似度が低いデータの場合は、そのデータの異常の有無を用いて、学習データへのデータの追加や削除を行うことにより、学習データを生成・更新し、 あらたに取得した観測データと、学習データに含まれる個々のデータの乖離度に基づいて、観測データの異常を検知することを特徴とする異常検知方法。
IPC (1)：
G05B 23/02
FI (1)：
G05B23/02 302S
F-Term (7)：
5H223AA01 ,  5H223AA02 ,  5H223AA03 ,  5H223EE29 ,  5H223FF05 ,  5H223FF06 ,  5H223FF08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (4)
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