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J-GLOBAL ID：201102229825642479   Reference number：11A1134597

単電子インバータに対するパラメータ変動の影響

Author (1)： OMAMEUDA TOSHIAKI (群馬工高専)
Material： 電子情報通信学会論文誌 C  (IEICE Transactions on Electronics (Japanese Edition))
Volume： J94-C  Issue： 7  Page： 184-192  Publication year： Jul. 01, 2011 
JST Material Number： S0623C  ISSN： 1345-2827  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *inverter ,  *single electron tunnel effect ,  fluctuation and variation ,  *circuit simulation ,  *single electron transistor ,  *logic circuit ,  *reliability analysis ,  electrostatic capacity ,  tunnel junction ,  parameter variation
Semi thesaurus term： *単一電子論理回路

JST classification (2)： Power converters  (NB08030B) ,  Transmission circuit theory  (NA02020X)

Reference (5)：

• J. R. Tucker, “Complementary digital logic based on the “Coulomb blockade”,” J. Appl. Phys., vol.72, no.9, pp. 4399-4413, Nov.1992.
• 大豆生田利章, “単一電子論理回路における新しいタイプの故障,”信学論 (D-I), vol. J88-D-I, no.5, pp. 949-957, May 2005.
• 桑村信博, 谷口研二, 浜口智尋, “単一電子論理回路のシミュレーション,”信学論 (C-II), vol. J77-C-II, no.5, pp. 221-228, May 1994.
• 米田友洋, 梶原誠司, 土屋達弘, デイペンダブルシステム, 第5章, 共立出版, 2005.
• P. K. Lala, Digital Circuit Testing and Testability, chap. 1, Academic Press, 1997.

Terms in the title (3)： 電子 ,  インバータ ,  パラメータ変動