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J-GLOBAL ID：201103006737380523
試料中のダイオキシン類の濃度を測定する方法及びその装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
,
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2001337337
Publication number (International publication number)：2002214231
Patent number：3933912
Application date： Nov. 02, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Claim (excerpt)：
【請求項1】 試料中のダイオキシン類の濃度を測定する方法であって、
4’,5’-ジクロロフタロイル系からなるハプテンをルテニウム錯体と化学結合させてハプテン・ルテニウム錯体からなる抗原に形成する工程、
該ハプテン・ルテニウム錯体からなる抗原及びダイオキシン類を含有すると考えられる試料を、電極上に固定した該ダイオキシン類に対する抗体と結合させ、競争的に抗原抗体反応を生じさせる工程、
この反応生成物に前記電極から電圧を印加させることにより前記ルテニウム錯体を酸化・還元させて電解発光を生じさせる工程、及び
該電解発光による発光量を測定して前記抗原を定量することで、前記試料中のダイオキシン類の量を求める工程、
を備えたことを特徴とする試料中のダイオキシン類の濃度を測定する方法。
IPC (4)：
G01N 33/53 ( 200 6.01)
, G01N 21/78 ( 200 6.01)
, G01N 33/00 ( 200 6.01)
, G01N 33/553 ( 200 6.01)
G01N 33/53 G
, G01N 21/78 C
, G01N 33/00 D
, G01N 33/553
