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J-GLOBAL ID：201103010815095200

疲労試験機

Inventor： 中村 孝 ,  泉谷 仁 ,  椎名 貴弘 ,  小熊 博幸 ,  浦井 隆宏
Applicant, Patent owner： 北海道ティー・エル・オー株式会社 ,  日本ムーグ株式会社
Agent (1)： 中野 寛也
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003149131
Publication number (International publication number)：2004354081
Patent number：4172544
Application date： May. 27, 2003
Publication date： Dec. 16, 2004
Claim (excerpt)：

【請求項1】 試験片を取り付ける試験片取付部および前記試験片に荷重を負荷するアクチュエータ部を有する本体と、前記試験片に負荷される荷重に応じた検出信号をフィードバックして前記アクチュエータ部の動作を制御するための制御信号を前記本体に送るフィードバック制御を行う制御手段とを備えた疲労試験機において、 前記制御手段は、前記フィードバック制御をデジタル処理で行うデジタルコントローラを備えて構成され、 このデジタルコントローラは、 前記検出信号と目標値信号との偏差量に応じた前記制御信号を発生する制御信号発生手段と、 前記検出信号の波形と前記目標値信号の波形とを比較してこの比較結果に基づき前記制御信号の発生処理に用いられる増幅率および零点の補正に関する計算処理を行う増幅率補正/零点補正計算手段と、 この増幅率補正/零点補正計算手段による計算結果に基づき前記増幅率の補正処理を行う増幅率補正手段と、 前記増幅率補正/零点補正計算手段による計算結果に基づき前記零点の補正処理を行う零点補正手段とを含んで構成され、 前記増幅率補正/零点補正計算手段は、前記検出信号の前記目標値信号への収束度に応じて前記増幅率の補正に関する計算処理のアルゴリズムを段階的に切り替える構成とされ、前記アルゴリズムを切り替えることは、(1)計算処理に使用される数式の形態そのものを切り替えること、(2)計算処理に使用される数式に含まれる係数または定数の値を切り替えること、(3)計算処理に使用される前記検出信号および前記目標値信号以外のデータまたはデータ群を切り替えること、(4)条件に応じた選択処理または分岐処理の構造を切り替えること、(5)全く異種のアルゴリズムへ切り替えることのいずれかである ことを特徴とする疲労試験機。

IPC (1)：

G01N 3/34 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 3/34 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 疲労試験機
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-041305   Applicant：北海道ティー・エル・オー株式会社, 日本ムーグ株式会社

Cited by examiner (1)

• 疲労試験機
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-041305   Applicant：北海道ティー・エル・オー株式会社, 日本ムーグ株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 超高サイクル用小型デジタルサーボ疲労試験機の開発

Cited by examiner (1)

• 超高サイクル用小型デジタルサーボ疲労試験機の開発