Pat
J-GLOBAL ID:200903089570183350

疲労試験機

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中野 寛也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001041305
Publication number (International publication number):2002243606
Application date: Feb. 19, 2001
Publication date: Aug. 28, 2002
Summary:
【要約】【課題】 高応答性を備えるとともに、小型かつ簡易な構造を有する疲労試験機を提供すること。【解決手段】 試験片1の一端1Aを支持する支持部30と、不動部80および可動部71を有するアクチュエータ70とを備え、試験片1の他端1Bが、アクチュエータ70の可動部71に接続されて試験片1の長手方向に変位する構成とされている疲労試験機10において、支持部30とアクチュエータ70の不動部80とを一体化した。また、試験片1の両端1A,1Bの各側に、球面軸受58,59を設けておくことが好ましい。
Claim (excerpt):
試験片の一端を支持する支持部と、不動部および可動部を有するアクチュエータとを備え、前記試験片の他端は、前記アクチュエータの前記可動部に接続されて前記試験片の長手方向に変位する構成とされている疲労試験機において、前記支持部と前記アクチュエータの前記不動部とは、一体化されていることを特徴とする疲労試験機。
F-Term (6):
2G061AA02 ,  2G061AB06 ,  2G061CC11 ,  2G061DA03 ,  2G061EA04 ,  2G061EB05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
Show all

Return to Previous Page