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J-GLOBAL ID:201103012779423680

金属微粒子を用いた質量分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2006511686
Patent number:4557973
Application date: Mar. 29, 2005
Claim (excerpt):
【請求項1】一般式(IV): M1-S-X-CH(R)-S-M1(IV) (式中、Rは有機残基であり、Sは硫黄原子であり、両端のM1は同一実体の金属であり、Xは低級アルキレンまたは低級アルケニレンである) で表される金属-有機残基複合体から硫黄原子を含む有機残基誘導体をイオン化することを特徴とする、 一般式(V): HS-X-CH(R)-SH(V) (式中、R、SおよびXは前記と同意義である)で表される化合物もしくはその塩、および/または 一般式(VI): (式中、R、SおよびXは前記と同意義である)で表される化合物もしくはその塩、 を質量分析する方法。
IPC (2):
G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  G01N 27/64 ( 200 6.01)
FI (3):
G01N 27/62 V ,  G01N 27/64 B ,  G01N 27/62 K
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
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