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J-GLOBAL ID：201103015055664766

ディジタル電子計算機回路の故障検査方法

Inventor： 橋爪 正樹 ,  四柳 浩之 ,  為貞 建臣 ,  茅原 敏広 ,  田坂 英司
Applicant, Patent owner： 三浦工業株式会社
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：1999009177
Publication number (International publication number)：2000207239
Patent number：4232250
Application date： Jan. 18, 1999
Publication date： Jul. 28, 2000
Claim (excerpt)：

【請求項1】 マイクロプロセッサと、このマイクロプロセッサに接続され、一対の信号線間の短絡故障による影響が検出可能な電源電流に現れるまで、異なる論理値を出力し続けられない信号線間の短絡故障を検出するための検査プログラムを格納した検査用ROMとを備えるディジタル電子計算機回路の故障検査方法であって、 前記検査プログラムは、故障発生時には正常回路時にアクセスする第一のメモリセル以外の第二のメモリセルにアクセスする前記短絡故障を検出するプログラムであって、正常回路時には前記第一のメモリセルにアクセスして前記第一のメモリセルに格納した命令が読み出され、最終的にホールト命令が実行されて前記マイクロプロセッサを実行停止状態とするとともに、故障が一つでも発生している場合は前記第二のメモリセルにアクセスして前記第二のメモリセルに格納した命令が繰り返し読み出されてホールト命令が実行されないプログラムで構成され、 前記マイクロプロセッサにより実際に使用する周波数クロックで前記検査プログラムを実行させ、実行停止状態の電源電流値より大きな電流が測定されれば前記信号線の短絡故障と判定することを特徴とするディジタル電子計算機回路の故障検査方法。

IPC (3)：

G06F 11/22 ( 200 6.01) ,  G01R 31/02 ( 200 6.01) ,  G01R 31/3183 ( 200 6.01)

FI (4)：

G06F 11/22 310 M ,  G06F 11/22 310 G ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28 Q

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 故障検出方法及び検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-064941   Applicant：三菱電機株式会社
• 特開昭63-205581