Pat

J-GLOBAL ID：201103025300906784

ずり測定方法及びその装置

Inventor： 栗原 和枝 ,  佐久間 博 ,  水上 雅史
Applicant, Patent owner： 独立行政法人科学技術振興機構
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2007537629
Patent number：4615568
Application date： Sep. 27, 2006
Claim (excerpt)：

【請求項1】 入力信号Uinを共振ずり測定ユニットの水平駆動部に入力し、該共振ずり測定ユニットにおける固体表面に挟まれた試料に対してその片側表面の振動を変位計で出力信号Uoutとして検出し、前記入力信号Uinとともに、前記出力信号Uoutを共振ずり計測装置に入力し、前記共振ずり測定ユニットの固体表面に挟まれた試料のせん断応答を膜厚の変化と共に計測する共振ずり測定方法であって、前記試料の片側表面の振動の減衰曲線をフーリエ変換し、共振ずり曲線を得ることを特徴とする共振ずり測定方法。

IPC (3)：

G01N 11/14 ( 200 6.01) ,  G01N 19/00 ( 200 6.01) ,  G01N 11/00 ( 200 6.01)

FI (3)：

G01N 11/14 E ,  G01N 19/00 C ,  G01N 11/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-047602
  
• 特開昭63-135808
  
• 特開昭61-132840
  
• 非接触光学式の二面間距離測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-270136   Applicant：株式会社トプコン

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• ”ナノ共振ずり測定法によるナノ薄膜の摩擦、粘弾性評価”