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J-GLOBAL ID:201103035604592080

電子光学機器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 一色国際特許業務法人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010041949
Publication number (International publication number):2011181223
Application date: Feb. 26, 2010
Publication date: Sep. 15, 2011
Summary:
【課題】陰極軸方向(スピン偏極電子の進行方向)への磁気異方性を発現することができ、もってスピン偏極率の測定や磁性体試料の解析・表面分析などを効率よく行うことが可能な電子光学機器を提供すること。【解決手段】スピン偏極率の測定や磁性体試料の解析を効率よく行うことができる電子光学機器は、スピン偏極電子のスピンの向きを電子の進行方向を含む面内に回転させるスピン回転器と、前記スピン回転器を通過したスピン偏極電子ビームの電子エネルギーを選別するスリットと、を備え、前記スピン回転器は、電場・磁場重畳型の90°偏向器であり、前記スピン偏極電子のエネルギー分布を測定することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
スピン偏極電子のスピンの方向を電子の進行方向を含む面内に回転させるスピン回転器と、 前記スピン回転器を通過したスピン偏極電子のエネルギーを選別するスリットと、 を備え、 前記スピン回転器は、電場・磁場重畳型の90°偏向器であり、前記スピン偏極電子のエネルギー分布を測定できることを特徴とする電子光学機器。
IPC (6):
H01J 37/147 ,  H01J 37/29 ,  H01J 37/12 ,  H01J 37/252 ,  H01J 37/244 ,  H01J 37/153
FI (6):
H01J37/147 Z ,  H01J37/29 ,  H01J37/12 ,  H01J37/252 Z ,  H01J37/244 ,  H01J37/153
F-Term (4):
5C033CC01 ,  5C033NN10 ,  5C033NP08 ,  5C033RR10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • スピン回転器
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-045250   Applicant:株式会社日立製作所
  • ウィーンフィルタ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2006-321980   Applicant:日本電子株式会社

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