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J-GLOBAL ID:201103038511002711

バイポーラトランジスタとその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):1997352746
Publication number (International publication number):1999186280
Patent number:3262056
Application date: Dec. 22, 1997
Publication date: Jul. 09, 1999
Claim (excerpt):
【請求項1】半導体基板上にエミッタコンタクト層、禁制帯幅Eg1を有する不純物濃度N1を有するエミッタ層、禁制帯幅Eg2を有する不純物濃度N2を有するエミッタ緩衝層、禁制帯幅Eg3を有するベース層、コレクタ層を順次積層したトランジスタ領域と、前記半導体基板上にエミッタコンタクト層、禁制帯幅Eg1を有する前記エミッタ層、前記ベース層につながり禁制帯幅Eg3’を有する外部ベース層を順次積層したトランジスタ外部領域とを備えたバイポーラトランジスタであり、前記エミッタ層の禁制帯幅Eg1が、前記エミッタ緩衝層の禁制帯幅Eg2に等しく、前記エミッタ層の不純物濃度N1とエミッタ緩衝層の不純物濃度N2とは、N1<N2なる関係を満たし、かつ、Eg1>Eg3’≧Eg3であることを特徴とするバイポーラトランジスタ。
IPC (3):
H01L 21/331 ,  H01L 29/205 ,  H01L 29/737
FI (2):
H01L 29/205 ,  H01L 29/72 H
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
  • 特開平1-132161
  • 半導体装置とその製造方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-293718   Applicant:日本電信電話株式会社
  • 特開平2-049432
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