Pat
J-GLOBAL ID：201103062617870044
超音波非破壊検査方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
正林 真之
, 林 一好
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010215915
Publication number (International publication number)：2011007813
Application date： Sep. 27, 2010
Publication date： Jan. 13, 2011
Summary：
【課題】近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。【解決手段】細長いストリップは、幅及び厚さが1対1よりも大きなアスペクト比をもつ縦断面を有し、超音波トランスデューサに整合し、励起により、細長いストリップに沿って近位端に進行して試験対象物に進入する、実質的に非分散性の超音波信号を誘導する。この非分散性パルスは、飛行時間測定、厚さ測定、クラック測定等に特に好適である。細長いストリップにより、トランスデューサは試験対象物に伴う潜在的に不適切な環境から分離される。細長いストリップは、試験対象物との大きな接触面積も有し、試験対象物への効率的な照射が可能になる。【選択図】図13
Claim (excerpt)：
試験対象物の超音波非破壊検査のための装置であって、前記装置は、
超音波透過性材料の細長いストリップであって、前記細長いストリップは前記試験対象物と結合するための近位端及び遠位端を有するストリップ;及び、
前記細長いストリップに結合される超音波トランスデューサを含んでなり、
ここに前記細長いストリップは、1対1を超えるアスペクト比を与える幅及び厚さを伴う縦方向の断面を有し、前記超音波トランスデューサの励起が前記細長いストリップに沿って進行する実質的に非分散の超音波信号を誘導して前記試験対象物に進入するように、前記超音波トランスデューサと整合する、装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01B17/02 D
, G01N29/10 501
2F068AA28
, 2F068AA48
, 2F068DD03
, 2F068FF11
, 2F068FF12
, 2F068GG04
, 2F068HH04
, 2F068KK13
, 2F068KK15
, 2F068LL24
, 2F068MM01
, 2F068NN01
, 2G047AA06
, 2G047AB04
, 2G047BA03
, 2G047EA12
, 2G047EA21
Cited by examiner (1)
-
超音波行路バンドル及びシステム
Gazette classification：公表公報
Application number：特願平9-501623
Applicant：パナメトリクスインコーポレイテッド
Article cited by the Patent：
Return to Previous Page
