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J-GLOBAL ID:201103067433342713

集積回路の認証

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 恩田 博宣 ,  恩田 誠 ,  本田 淳 ,  池上 美穂
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011011192
Publication number (International publication number):2011123909
Application date: Jan. 21, 2011
Publication date: Jun. 23, 2011
Summary:
【課題】チップの識別表示の偽造を防止する。【解決手段】デバイスのグループは、共通の設計に基づいて製造され、各デバイスは、グループ内でそのデバイスに対して一意なものである対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスは、測定可能な特性を測定するための測定モジュールを有する。デバイスのグループのうちの1つのデバイスの認証は、デバイスの複数の測定可能な特性のうちの1つ以上を選択的に測定することにより、可能となる。【選択図】 図14
Claim (excerpt):
方法であって 共通の設計に基づいて製造されたデバイスのグループから第1のデバイスを提供することであって、各デバイスが、前記グループ内でそのデバイスに対して固有なものである複数の動特性を含む対応する複数の測定可能な特性を有し、各デバイスが、前記測定可能な特性を測定するための測定モデルを有する、前記第1のデバイスを提供すること、 前記デバイスの1つ以上の複数の測定可能な特性のうちの1つ以上の選択された一部を選択的に測定し、前記選択された一部の前記測定結果を、前記第1のデバイスについて選択された一部のために以前に選択的に測定され予め記憶された測定値と比較することにより前記第1のデバイスの認証を可能にすることを備え、 前記複数の測定可能な特性は、前記デバイス内の複数の信号経路の遅延特性を含む、方法。
IPC (3):
G06F 21/20 ,  H04L 9/32 ,  G09C 1/00
FI (4):
G06F15/00 330G ,  H04L9/00 675A ,  G09C1/00 640E ,  H04L9/00 673Z
F-Term (17):
5B285AA01 ,  5B285AA04 ,  5B285BA08 ,  5B285CA22 ,  5B285CA42 ,  5B285CA43 ,  5B285CA44 ,  5B285CB47 ,  5B285CB62 ,  5B285CB72 ,  5B285CB94 ,  5J104AA07 ,  5J104KA02 ,  5J104KA04 ,  5J104KA15 ,  5J104NA05 ,  5J104NA38
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • “Controlled Physical Unknown Functions: Applications to Secure Smartcards and Certified Execution”
  • “Delay-Based Circuit Authentication and Applications”
  • “Silicon Physical Random Functions”
Cited by examiner (3)
  • “Controlled Physical Unknown Functions: Applications to Secure Smartcards and Certified Execution”
  • “Delay-Based Circuit Authentication and Applications”
  • “Silicon Physical Random Functions”

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