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J-GLOBAL ID：201103069453919912

磁性粒子検出を基本とする実効インダクタンスの変化

Inventor： ワン ファ ,  ハジミリ セイエド アリ ,  チェン ヤン
Applicant, Patent owner： カリフォルニア インスティテュート オブ テクノロジー
Agent (2)： 正林 真之 ,  林 一好
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2010549917
Publication number (International publication number)：2011513755
Application date： Mar. 06, 2009
Publication date： Apr. 28, 2011
Summary：

本発明は、試料内の磁性粒子の量を検出する統合測定システムに関する。測定システムは、基板を含む。電磁(EM)構造体は、基板の表面に配置され、近接した磁性粒子を備える試料を受け入れるように構成される。統合測定システムはまた、基板の表面に配置され、EM構造体に電磁気的に接続された電流発生器を含む。電流発生器は、EM構造体内に電流を流すように構成される。統合測定システムはまた、基板の表面に配置され、実効インダクタンスおよび実効インダクタンスの変化量の選択された一方を測定し、磁性粒子の量を検出するように構成された実効インダクタンスセンサを含む。本発明はまた、試料内の磁性粒子の数および/または位置を求める方法に関する。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

試料内の磁性粒子の量を検出する統合測定システムであって、 表面を有する基板と、 前記基板の前記表面に配置され、近接した前記磁性粒子を含む試料を受け入れるように構成される電磁(EM)構造体と、 前記基板の前記表面に配置され、前記EM構造体に電磁気的に接続され、前記EM構造体内に電流を流すように構成される電流発生器と、 実効インダクタンスセンサおよび自己インダクタンスセンサの選択された一方を備え、前記基板の前記表面に配置され、実効インダクタンスおよび実効インダクタンスの変化量の選択された一方を測定するように構成されるセンサと、を備え、 それによって前記磁性粒子の量を検出する、測定システム。

IPC (2)：

G01N 27/74 ,  G01N 33/543

FI (2)：

G01N27/74 ,  G01N33/543 541A

F-Term (15)：

2G053AA01 ,  2G053AB01 ,  2G053BA02 ,  2G053BA05 ,  2G053BA06 ,  2G053BA08 ,  2G053BB03 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC03 ,  2G053BC07 ,  2G053CA17 ,  2G053CB12 ,  2G053CB21 ,  2G053DB03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 磁性粒子検出
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-111643   Applicant：ランドックス・ラボラトリーズ・リミテッド