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J-GLOBAL ID:201103070579175372

ベクトル計測装置,ベクトル計測システム及びベクトル計測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 井上 学 ,  戸田 裕二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009197573
Publication number (International publication number):2011047839
Application date: Aug. 28, 2009
Publication date: Mar. 10, 2011
Summary:
【課題】交流信号の周波数とベクトルを高速・高精度で計測する方法を提供する。【解決手段】交流信号である計測データを入力して自然数である周期で繰り返されて定まる複素定数で重み付け加算することで離散的フーリエ変換の基本波成分を演算する。この基本波成分の演算において、離散的フーリエ変換の周期を違えて複数行い、該複数の離散的フーリエ変換の演算結果を用いて周期の違う離散的フーリエ変換の演算結果の比と、位相検出結果から周波数を演算する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
一定間隔の計測データの過去Nw回分を保存するデータテーブルと、このNw個のデータを固定順に入力して自然数である周期Nbで繰り返される複素定数で重み付け加算した結果XNを離散的フーリエ変換の基本波成分として出力する第1のDFT演算手段と、この第1のDFT演算手段の出力XNを計測データのベクトル計測結果として出力するベクトル計測装置において、 MbはNbと異なる自然数であって、前記データテーブルからMw回分のデータを固定順に入力して周期Mbで繰り返される複素定数で重み付け加算した結果XMを離散的フーリエ変換の基本波成分として出力する第2のDFT演算手段と、前記XNの偏角θnを出力する偏角演算手段と、前記XNと前記XMの比(XM/XN)の実数部あるいは虚数部を選択出力する比較手段とを設け、前記偏角θnと前記比較手段の出力から周波数fを演算出力することを特徴とするベクトル計測装置。
IPC (1):
G01R 23/16
FI (2):
G01R23/16 Z ,  G01R23/16 B
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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