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J-GLOBAL ID：201103073953908442
X線回折測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
舘野 千惠子
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：1994206134
Publication number (International publication number)：1996054360
Patent number：2616452
Application date： Aug. 09, 1994
Publication date： Feb. 27, 1996
Claim (excerpt)：
【請求項1】 X線源からの白色X線を被測定物に入射する機構と、該被測定物からの回折X線のエネルギースペクトルを測定する機構と、前記被測定物からの回折X線の強度を計数測定する機構と、前記被測定物を所望の角度に回転させる機構とから構成されてなることを特徴とするX線回折測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
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