勾配磁場計測方法およびMRI装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：有近紳志郎
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：1999262927
Publication number (International publication number)：2001078986
Patent number：3423902
Application date： Sep. 17, 1999
Publication date： Mar. 27, 2001
Claim (excerpt)：

【請求項1】 1つのFID信号からデータをサンプリングする回数をTとし、2以上の自然数をKとするとき、励起RFパルスを印加し、プリエンコードパルスPkを印加し、計測対象の勾配波形のエンコードパルスGeを印加しながらFID信号からデータS(k,1)〜S(k,T)を収集することを、前記プリエンコードパルスPkの大きさを変えてK回繰り返し、収集したデータS(1,1)〜S(1,T),S(2,1)〜S(2,T),...,S(K,1)〜S(K,T)より、位相差Δφを角度に持つデータD(1,1)〜D(1,T-1),D(2,1)〜D(2,T-1),...,D(K,1)〜D(K,T-1)を求め、前記エンコードパルスGeの大きさが対応するデータ同士を加算して加算データd(1)〜d(T-1)を求め、その加算データd(1)〜d(T-1)から勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を求め、その勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を積算して勾配磁場G(1)〜G(T-1)を求めることを特徴とする勾配磁場計測方法。

IPC (2)：

A61B 5/055 , G01R 33/389

FI (2)：

A61B 5/05 341 , G01N 24/06 530 Y

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

基本磁場の時間経過特性を求める方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-105055 Applicant：シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト

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