X線を利用した顕微鏡の部材、被測定物の保持部材及び保持部材の製造方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：光田敦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003116372
Publication number (International publication number)：2004325090
Patent number：3702346
Application date： Apr. 21, 2003
Publication date： Nov. 18, 2004
Claim (excerpt)：

【請求項1】単一の結晶から成る蛋白質を被測定物とし、該結晶の単位構造の原子配列を解析するための、X線を利用した顕微鏡において、該顕微鏡の検出装置で測定される被測定物の原子配列を反映したX線及び該X線を生じさせるために被測定物に照射されるX線が、通過する範囲に置かれる部材であって、該部材がポリエチレンテレフタレートから成ることを特徴とする部材。

IPC (1)：

G01N 23/20

FI (1)：

G01N 23/20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

X線回折顕微装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-186557 Applicant：日本電気株式会社
電磁波遮蔽用スクリーン
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-368615 Applicant：株式会社鈴寅, エヌ・ビー・シー工業株式会社
特開平3-197836

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Cited by examiner (5)

特開平3-197836
X線回折顕微装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-186557 Applicant：日本電気株式会社
特開昭57-039338

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