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J-GLOBAL ID：201103082101006158

X線を利用した顕微鏡の部材、被測定物の保持部材及び保持部材の製造方法

Inventor： 永井 稔 ,  平木 雅彦 ,  若槻 壮市 ,  志波 智生
Applicant, Patent owner： 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構
Agent (1)： 光田 敦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003116372
Publication number (International publication number)：2004325090
Patent number：3702346
Application date： Apr. 21, 2003
Publication date： Nov. 18, 2004
Claim (excerpt)：

【請求項1】 単一の結晶から成る蛋白質を被測定物とし、該結晶の単位構造の原子配列を解析するための、X線を利用した顕微鏡において、該顕微鏡の検出装置で測定される被測定物の原子配列を反映したX線及び該X線を生じさせるために被測定物に照射されるX線が、通過する範囲に置かれる部材であって、該部材がポリエチレンテレフタレートから成ることを特徴とする部材。

IPC (1)：

G01N 23/20

FI (1)：

G01N 23/20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平3-197836
  
• X線回折顕微装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-186557   Applicant：日本電気株式会社
• 特開昭57-039338
  
• 電磁波遮蔽用スクリーン
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-368615   Applicant：株式会社鈴寅, エヌ・ビー・シー工業株式会社
• X線回折装置の試料位置確認方法及び試料容器並びにX線顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-278248   Applicant：理学電機株式会社