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J-GLOBAL ID：201202208002869591   Reference number：12A1436853

Time-resolved observation of electrochemical thin-film growth by X-ray reflectivity

X線反射率測定による電気化学成長の時分割観察

Author (4)： VOEGELI Wolfgang (KEK) ,  MATSUSHITA Tadashi (KEK) ,  ARAKAWA Etsuo (Tokyo Gakugei Univ.) ,  YANO Yohko F. (Kinki Univ.)
Material： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
Volume： 73rd  Page： ROMBUNNO.12A-PB1-13  Publication year： Aug. 27, 2012 
JST Material Number： Y0055B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *measurement ,  *chemical vapor deposition ,  *solid-liquid interface
Semi thesaurus term： *X-ray reflectometry ,  *electrochemical vapor deposition

JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (5)： X線反射率測定 ,  電気化学 ,  成長 ,  時分割 ,  観察