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J-GLOBAL ID：201202209812481464   Reference number：12A1712091

Lateral resolution improvement in scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring super-higher-order nonlinear dielectric constants

超高次の非線形誘電定数の測定による走査型非線形誘電顕微鏡における横方向分解能の改善

Author (5)： CHINONE N. (Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  YAMASUE K. (Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  HIRANAGA Y. (Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  HONDA K. (Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN) ,  CHO Y. (Res. Inst. of Electrical Communication, Tohoku Univ., 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 101  Issue： 21  Page： 213112-213112-4  Publication year： Nov. 19, 2012 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： scanning probe microscope ,  *dielectric polarization ,  impurity distribution ,  space resolving power ,  *lithium tantalate ,  ferroelectric domain ,  *MOSFET ,  permittivity ,  nonlinearity
Semi thesaurus term： *走査型非線形誘電顕微鏡

JST classification (3)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Ferroelectrics,antiferroelectrics and ferroelasticity  (BM05030B) ,  Transistors  (NC03070N)

Terms in the title (6)： 非線形 ,  誘電定数 ,  走査型 ,  顕微鏡 ,  横方向 ,  分解能