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J-GLOBAL ID：201202212816100199   Reference number：12A1575022

レーザーイオン化SIMSによるディーゼル微粒子分析

Author (4)： MISAWA KENTARO (東京工大 資源化研) ,  SAKAMOTO TETSUO (工学大 工) ,  FUJITANI YUJI (環境研) ,  FUJII MASAAKI (東京工大 資源化研)
Material： 日本分析化学会年会講演要旨集  (分析化学講演要旨集)
Volume： 61st  Page： 32  Publication year： Sep. 05, 2012 
JST Material Number： G0563B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *secondary ion mass spectrometry ,  *fine particle ,  laser desorption mass spectrometry ,  focused ion beam ,  *polynuclear aromatic compound ,  polynuclear aromatic hydrocarbon ,  *diesel exhaust particles ,  TOF-MS
Semi thesaurus term： *Diesel Particulate ,  time of flight mass spectrometry

JST classification (2)： Physical analysis of organic compounds  (CC03034A) ,  Examination and measurement of granular matter  (SB03060E)

Substance index (1)： Pyrene

Terms in the title (5)： レーザー ,  イオン化 ,  SIMS ,  ディーゼル微粒子 ,  分析