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J-GLOBAL ID：201202233185863214   Reference number：12A1228613

Sub-nm resolution depth profiling of the chemical state and magnetic structure of thin films by a depth-resolved X-ray absorption spectroscopy technique

深さ分解X線吸収分光法による薄膜の化学的状態と磁気構造のサブnm分解能深さプロファイリング

Author (1)： AMEMIYA Kenta (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN)
Material： Physical Chemistry Chemical Physics  (PCCP)
Volume： 14  Issue： 30  Page： 10477-10484  Publication year： Aug. 14, 2012 
JST Material Number： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *depth profile ,  *depth distribution ,  *resolving power ,  *X-ray absorption spectroscopy ,  *thin film ,  state ,  *magnetic structure ,  unit ,  electron emission ,  *magnetic circular dichroism ,  magnetic thin film ,  ultrathin film ,  surface ,  interface(surface) ,  layer ,  principle ,  copper ,  crystal face ,  iron ,  metallic thin film ,  nickel ,  thin film growth ,  nickel oxide ,  monolayer
Semi thesaurus term： *depth profiling ,  chemical state ,  nanometer ,  *X-ray Magnetic Circular Dichroism ,  interlayer ,  measurement principle ,  ferromagnetic film

JST classification (4)： Other phsical analysis  (CC03014E) ,  Metallic thin films  (BK14030T) ,  X-ray spectra in general.Including X-ray  (BM08101P) ,  Electrooptical effects,magnetooptical effects  (BM08020L)

Terms in the title (8)： 分解 ,  X線吸収分光法 ,  薄膜 ,  化学的状態 ,  磁気構造 ,  サブ ,  分解能 ,  深さプロファイリング