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J-GLOBAL ID：201202250098758147   Reference number：12A1012854

Atomic contrast on a point defect on CaF₂(111) imaged by non-contact atomic force microscopy

非接触原子間力顕微鏡により撮像したCaF₂(111)上の点欠陥の原子コントラスト

Author (2)： FUJII S. (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama) ,  FUJIHIRA M. (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama)
Material： Nanotechnology
Volume： 18  Issue： 8  Page： 5 PP.  Publication year： 2007 
JST Material Number： W0108A  ISSN： 0957-4484  CODEN： NNOTER  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Microscopy ,  *point defect ,  contrast ,  crystal face ,  *surface defect ,  Microscopy, Atomic Force ,  cleavage face ,  *Non-contact atomic force microscope
Semi thesaurus term： *二フッ化カルシウム ,  原子コントラスト ,  *noncontact atomic force microscope

JST classification (1)： Surface structure of solids in general  (BK15010E)

Terms in the title (6)： 非接触原子間力顕微鏡 ,  撮像 ,  CaF2 ,  点欠陥 ,  原子 ,  コントラスト