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J-GLOBAL ID：201202266484213523   Reference number：12A1287379

Investigations of Local Electrical Characteristics of a Pentacene Thin Film by Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy

点接触電流像原子間力顕微鏡法によるペンタセン薄膜の局所電気特性の研究

Author (5)： KIMURA Tomoharu (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MIYATO Yuji (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KOBAYASHI Kei (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YAMADA Hirofumi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUSHIGE Kazumi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 51  Issue： 8,Issue 4  Page： 08KB05.1-08KB05.5  Publication year： Aug. 25, 2012 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,  *point contact ,  *organic semiconductor ,  semiconductor thin film ,  *electric current ,  Vacuum ,  conductance ,  grain boundary ,  polyacene

JST classification (1)： Electric conduction in organic compounds  (BM03045F)

Substance index (1)： Pentacene

Reference (25)：

• 1) A. Dodabalapur: Mater. Today 9 [4] (2006) 24.
• 2) T. Sekitam and T. Someya: Adv. Mater. 22 (2010) 2228.
• 3) O. D. Jurchescu, M. Popinciuc, B. J. van Wees, and T. T. M. Palstra: Adv. Mater. 19 (2007) 688.
• 4) D. Knipp, R A. Street, A. V・アlkel, and J. Ho: J. Appl. Phys. 93 (2003) 347.
• 5) Z. Bao, A. Dodabalapur, and A. J. Lovinger: Appl. Phys. Lett. 69 (1996) 4108.

Terms in the title (6)： 点接触 ,  原子間力顕微鏡法 ,  ペンタセン ,  薄膜 ,  電気特性 ,  研究