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J-GLOBAL ID:201203004021342650

二次電池の劣化判定方法とその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人コスモス特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011082730
Publication number (International publication number):2012220199
Application date: Apr. 04, 2011
Publication date: Nov. 12, 2012
Summary:
【課題】抵抗増加として現れる劣化だけでなく,より精密に二次電池の劣化の状態を判定することのできる二次電池の劣化判定方法とその装置を提供すること。【解決手段】本発明は,二次電池1の劣化の程度を判定するための方法および装置であって,判定対象の二次電池1を交流インピーダンス法により,高周波数側反応抵抗と,高周波数側反応抵抗に直列に配置された低周波数側反応抵抗と,高周波数側反応抵抗に並列に配置された高周波数側キャパシタと,低周波数側反応抵抗に並列に配置された低周波数側キャパシタとを有する等価回路モデルにフィッティングし,その際の低周波数側反応抵抗の抵抗値と低周波数側キャパシタのキャパシタンスとの積の逆数が小さいほど劣化の程度が大きいと判定するものである。【選択図】図1
Claim (excerpt):
二次電池の劣化の程度を判定するための二次電池の劣化判定方法において, 判定対象の二次電池を交流インピーダンス法により,高周波数側反応抵抗と,前記高周波数側反応抵抗に直列に配置された低周波数側反応抵抗と,前記高周波数側反応抵抗に並列に配置された高周波数側キャパシタと,前記低周波数側反応抵抗に並列に配置された低周波数側キャパシタとを有する等価回路モデルにフィッティングし, その際の前記低周波数側反応抵抗の抵抗値と前記低周波数側キャパシタのキャパシタンスとの積の逆数が小さいほど劣化の程度が大きいと判定することを特徴とする二次電池の劣化判定方法。
IPC (2):
G01R 31/36 ,  H01M 10/48
FI (2):
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P
F-Term (9):
2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  2G016CC13 ,  2G016CF06 ,  5H030AA10 ,  5H030AS20 ,  5H030FF42
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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