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J-GLOBAL ID：201203006467703594

分光装置

Inventor： 萩行 正憲 ,  森川 治
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (1)： 新居 広守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010192529
Publication number (International publication number)：2012047696
Application date： Aug. 30, 2010
Publication date： Mar. 08, 2012
Summary：

【課題】連続的な広い周波数範囲にわたって信号対雑音比のよい測定ができる分光装置を提供する。【解決手段】インコヒーレント光の光源であるブロードエリア半導体レーザ1と、インコヒーレント光を平行化して集光する一対のレンズ2a、2bと、一対のレンズ2a、2bを通過したインコヒーレント光を通過させるためのピンホールが形成されたピンホール部材6と、ピンホールを通過したインコヒーレント光を2つに分割するビームスプリッタ7と、分割された後の2つのインコヒーレント光のうちの一方のインコヒーレント光の照射に基づき第1電磁波を放射する電磁波放射用光伝導素子8と、第1電磁波を試料に透過または反射させた第2電磁波と上記2つのインコヒーレント光のうちの他方のインコヒーレント光とが入射され、第2電磁波と他方のインコヒーレント光との相互相関信号を得る電磁波検出用光伝導素子9とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

インコヒーレント光の光源と、 前記インコヒーレント光を平行化して集光する一対のレンズと、 前記一対のレンズを通過した前記インコヒーレント光を通過させためのピンホールが形成されたピンホール部材と、 前記ピンホール部材を通過した前記インコヒーレント光を2つに分割する分割部と、 前記分割部での分割後の2つのインコヒーレント光のうちの一方のインコヒーレント光の照射に基づき第1電磁波を放射する電磁波放射部と、 前記電磁波放射部から放射される前記第1電磁波を試料に透過または反射させた第2電磁波と前記分割部での分割後の前記2つのインコヒーレント光のうちの他方のインコヒーレント光とが入射され、前記第2電磁波と前記他方のインコヒーレント光との相互相関信号を得る電磁波検出部と を備える分光装置。

IPC (3)：

G01J 3/45 ,  G01N 21/00 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01J3/45 ,  G01N21/00 B ,  G01N21/27 Z

F-Term (24)：

2G020AA03 ,  2G020CA12 ,  2G020CB23 ,  2G020CC22 ,  2G020CC46 ,  2G020CC47 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G059AA02 ,  2G059BB16 ,  2G059BB20 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK03 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059NN06