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J-GLOBAL ID:201203008869037879

米粉の澱粉損傷度の予測方法及び加工適性の評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (17): 蔵田 昌俊 ,  高倉 成男 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  福原 淑弘 ,  峰 隆司 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  幸長 保次郎 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  井関 守三 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子 ,  竹内 将訓
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011048213
Publication number (International publication number):2012185038
Application date: Mar. 04, 2011
Publication date: Sep. 27, 2012
Summary:
【課題】 簡便且つ迅速な米粉の澱粉損傷度の予測方法を提供することを目的とする。また、米粉の澱粉損傷度を予測することにより、米粉の加工適性を評価することを目的とする。【解決手段】 米粉を水と接触させて前記米粉に水を吸収させ、接触後の経過時間に対する米粉の含水率の変化を測定する第1の工程と前記接触後の経過時間と米粉の含水率を下記近似式(I)に当てはめ、吸水係数a、K、n、bを求める第2の工程とを含む、米粉の澱粉損傷度の予測方法:Y(t)=a[1-exp(-K×tn)]+b (I)。式中、tは時間である。【選択図】図1
Claim (excerpt):
米粉を水と接触させて前記米粉に水を吸収させ、接触後の経過時間に対する米粉の含水率の変化を測定する第1の工程と、 前記接触後の経過時間と米粉の含水率を下記近似式(I)に当てはめ、吸水係数a、K、n、bを求める第2の工程と、 を含む、米粉の澱粉損傷度の予測方法: Y(t)=a[1-exp(-K×tn)]+b (I) 式中、tは時間である。
IPC (1):
G01N 5/00
FI (1):
G01N5/00 B
F-Term (5):
4B023LE07 ,  4B023LP20 ,  4B032DB02 ,  4B032DG08 ,  4B032DK22

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