Pat
J-GLOBAL ID：201203018373149079
電子装置の応答測定装置、応答測定方法、製造方法、設計改善方法および試験方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：
大森 純一
, 折居 章
, 中村 哲平
, 金子 彩子
, 吉田 望
, 金山 慎太郎
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2012513680
Publication number (International publication number)：2012529029
Application date： Jun. 04, 2010
Publication date： Nov. 15, 2012
Summary：
【課題】パッシブロードプルおよびアクティブロードプルの両方を利用するハイブリッドシステムの使用を提案する。【解決手段】 本発明は、当該技術分野において一般的に被験装置(すなわち、DUT)と称される高周波装置の挙動を比較的高い電力レベルで分析する、またはその特性を評価するための測定システムおよび測定方法に関する。係る装置は、例えば、携帯電話ネットワーク、または他の電気通信に関連する基地局において用いられる増幅器等、高電力(大信号)高周波増幅器に使用するために当該装置を設計するかまたは当該装置を用いる回路を設計する際に分析する必要がある場合がある。高周波入力信号に対する電子装置の応答を測定する測定装置が、測定対象の電子装置に接続可能なアクティブロードプル回路を具備する。パッシブロードプル装置はアクティブロードプル回路に含まれる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
高周波入力信号に対する電子装置の応答を測定する測定装置であって、
測定対象の電子装置に接続可能な、パッシブロードプル装置を有するアクティブロードプル回路を具備する
測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (7)：
2G028CG01
, 2G028CG08
, 2G028CG15
, 2G028CG20
, 2G028DH11
, 2G028DH15
, 2G028GL09
