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J-GLOBAL ID：201203022708168291

非破壊検査方法及び非破壊検査装置

Inventor： 臂 安彦 ,  貴治 雅博 ,  山田 和明 ,  楼 黎明
Applicant, Patent owner： 株式会社ジェイテクト
Agent (1)： 特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010236362
Publication number (International publication number)：2012088226
Application date： Oct. 21, 2010
Publication date： May. 10, 2012
Summary：

【課題】位相差分布を用いた場合において、内部欠陥のある部位と健全部との境界を正確に捉えることができる非破壊検査方法又は装置を提供する。【解決手段】検査対象物を励起してロックイン処理を行うサーモグラフィによる非破壊検査方法及び装置であって、まず、ロックイン処理を用いて位相差分布を求め、次に、位置に対応した位相の変化を1次近似した勾配が正の最大値及び負の最大値となる位置をそれぞれ求める。そして、当該位置を、内部欠陥のある部位と健全部との境界と判定する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

検査対象物を励起してロックイン処理を行うサーモグラフィによる非破壊検査方法であって、 前記ロックイン処理を用いて位相差分布を求め、 位置に対応した位相の変化を1次近似した勾配が正の最大値及び負の最大値となる位置をそれぞれ求めて、当該位置を、内部欠陥のある部位と健全部との境界と判定する ことを特徴とする非破壊検査方法。

IPC (2)：

G01N 25/72 ,  G01J 5/48

FI (2)：

G01N25/72 K ,  G01J5/48 A

F-Term (11)：

2G040AA05 ,  2G040CA02 ,  2G040DA06 ,  2G040DA12 ,  2G040EA06 ,  2G040HA11 ,  2G066AC20 ,  2G066BC09 ,  2G066CA02 ,  2G066CA04 ,  2G066CA20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 欠陥検査方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-280154   Applicant：阪上隆英, 住友大阪セメント株式会社, 株式会社中研コンサルタント, 株式会社コンステック
• 構造物の応力変動分布の測定方法およびその測定装置、ならびに構造物の欠陥検出方法および構造物の危険性把握方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-076367   Applicant：国立大学法人大阪大学
• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-172030   Applicant：アロカ株式会社
• X線撮影システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-002300   Applicant：コニカミノルタエムジー株式会社
• エンコーダの検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-128991   Applicant：日本精工株式会社