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J-GLOBAL ID:201203064402084510
高精度ブリッジ回路型検出器
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
大谷 嘉一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010263057
Publication number (International publication number):2012112849
Application date: Nov. 26, 2010
Publication date: Jun. 14, 2012
Summary:
【課題】微小抵抗変化の測定に対して、構造が簡単で誤差の小さい高精度のブリッジ回路型検出器の提供を目的とする。【解決手段】四辺形の少なくとも一辺に測定センサー部に対応して変位する抵抗変位部RSを有するブリッジ回路を用いた検出器であって、ブリッジ回路の対向するA点及びB点間に有する電源部と、他の対向するC点及びD点間に出力される電圧を検出する出力電圧測定部を有し、さらに前記A点及びB点間の電圧を測定する正味ブリッジ電圧測定部を有し、前記出力電圧測定部にて測定した出力電圧値と前記正味ブリッジ電圧測定部にて測定した正味ブリッジ電圧値にて抵抗変位部RSの微小抵抗変化を算出するものであることを特徴とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
四辺形の少なくとも一辺に測定センサー部に対応して変位する抵抗変位部RSを有するブリッジ回路を用いた検出器であって、
ブリッジ回路の対向するA点及びB点間に有する電源部と、他の対向するC点及びD点間に出力される電圧を検出する出力電圧測定部を有し、さらに前記A点及びB点間の電圧を測定する正味ブリッジ電圧測定部を有し、
前記出力電圧測定部にて測定した出力電圧値と前記正味ブリッジ電圧測定部にて測定した正味ブリッジ電圧値にて抵抗変位部RSの微小抵抗変化を算出するものであることを特徴とするブリッジ回路型検出器。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (11):
2F063AA25
, 2F063CA09
, 2F063DA02
, 2F063EC20
, 2F063LA27
, 2G028AA01
, 2G028BB20
, 2G028CG02
, 2G028DH03
, 2G028EJ07
, 2G028FK01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開昭53-074058
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ひずみ測定方法及びひずみ測定装置並びにひずみ測定用記録媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-295890
Applicant:株式会社東京測器研究所
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特開昭62-080533
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特公昭44-007250
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特表平5-500716
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