測定装置及び測定方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：阿部琢磨 , 黒岩創吾
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010244369
Publication number (International publication number)：2012098087
Application date： Oct. 29, 2010
Publication date： May. 24, 2012
Summary：

【課題】パターン投影法により、測定対象物の画像特徴と距離画像とを同時に取得することを目的とする。【解決手段】測定装置に、測定対象に投影するパターン光特性の照明光を設定するパターン光特性設定部112と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する反射光測定部120と、測定された前記反射光から測定対象の物理特性に応じた画像特徴を抽出する画像特徴抽出部130と、前記画像特徴の局所領域ごとの分布特性を算出する特徴分布算出部180と、算出された前記局所領域ごとの分布特性に応じて、距離計測用のパターン光特性と、画像特徴抽出用のパターン光特性とを含む前記照明光のパターン光特性を制御するパターン光制御部170とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象に投影するパターン光特性の照明光を設定する設定手段と、前記照明光を前記測定対象に照射したときの反射光を測定する測定手段と、測定された前記反射光から測定対象の物理特性に応じた画像特徴を抽出する抽出手段と、前記画像特徴の局所領域ごとの分布特性を算出する算出手段と、算出された前記局所領域ごとの分布特性に応じて、距離計測用のパターン光特性と、画像特徴抽出用のパターン光特性とを含む前記照明光のパターン光特性を制御する制御手段とを備えることを特徴とする測定装置。

IPC (2)：

G01B 11/25 , G06T 1/00

FI (2)：

G01B11/25 H , G06T1/00 315

F-Term (30)：

2F065AA01 , 2F065AA12 , 2F065AA31 , 2F065AA53 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF07 , 2F065FF41 , 2F065GG02 , 2F065HH05 , 2F065HH07 , 2F065LL53 , 2F065NN02 , 2F065QQ04 , 2F065QQ13 , 2F065QQ17 , 2F065QQ21 , 2F065QQ32 , 2F065QQ33 , 2F065QQ38 , 2F065QQ43 , 2F065SS13 , 5B057BA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057DA07 , 5B057DC22 , 5B057DC30 , 5B057DC33

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

3次元形状計測用撮影装置および方法並びにプログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-263386 Applicant：富士フイルム株式会社
物体形状認識装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-110525 Applicant：トヨタ自動車株式会社
特開昭63-191281

Show all

Return to Previous Page