分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：八島耕司 , 鶴寛 , 越山祥子 , 木村満
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011209158
Publication number (International publication number)：2012093350
Application date： Sep. 26, 2011
Publication date： May. 17, 2012
Summary：

【課題】熱影響を低減し測定精度の低下を防止することができる分析装置を提供する。【解決手段】分析装置は、マイクロチップ20、検出部30および分析測定部40を備える。マイクロチップ20は、測光部である分離流路21が形成された光透過性部材を有する。検出部30は、分離流路21に光を照射する照射用導光部31、および、分離流路21を介した光を受光する受光用導光部32を備える。マイクロチップ20を挟んでマイクロチップ支持台41に対向する位置に配設された照射用導光部31または受光用導光部32は、マイクロチップ20に当接し、マイクロチップ20をマイクロチップ支持台41の方向へ付勢する。分析測定部40は、検出部30、照射用導光部31および受光用導光部32を備え、分離流路21に注入された試料の成分を光学的手法により検出する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

測光部を有するマイクロチップと、前記マイクロチップを支持する支持部材と、前記測光部に光を照射する光照射手段と、前記測光部を介した光を受光する受光手段と、前記マイクロチップを挟んで前記支持部材に対向する位置に配設される前記光照射手段または前記受光手段を、該マイクロチップに当接させ、該マイクロチップを前記支持部材へ支持する方向へ付勢する第1の付勢手段と、を備えることを特徴とする分析装置。

IPC (3)：

G01N 21/01 , G01N 37/00 , G01N 21/64

FI (3)：

G01N21/01 Z , G01N37/00 101 , G01N21/64 Z

F-Term (30)：

2G043AA01 , 2G043BA16 , 2G043CA03 , 2G043DA05 , 2G043DA06 , 2G043EA01 , 2G043EA06 , 2G043EA13 , 2G043EA14 , 2G043GA07 , 2G043GB08 , 2G043GB19 , 2G043HA01 , 2G043HA05 , 2G043JA03 , 2G043LA01 , 2G059AA01 , 2G059BB04 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059DD12 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE07 , 2G059JJ03 , 2G059JJ11 , 2G059JJ17 , 2G059KK01 , 2G059NN06 , 2G059NN10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-238577 Applicant：日本電気株式会社
マイクロチップ電気泳動装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-053921 Applicant：日立化成工業株式会社
吸光度測定ユニット
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-274788 Applicant：ウシオ電機株式会社

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Cited by examiner (4)

検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-238577 Applicant：日本電気株式会社
マイクロチップ電気泳動装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-053921 Applicant：日立化成工業株式会社
吸光度測定ユニット
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-274788 Applicant：ウシオ電機株式会社

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