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J-GLOBAL ID：201203092439770271

能動計量学習装置、能動計量学習方法および能動計量学習プログラム

Inventor：
門馬 道也

About 門馬 道也

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森永 聡

About 森永 聡

, 
河村 大輔

About 河村 大輔


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 高橋 勇
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2009069790
Publication number (International publication number)：WO2010061813
Application date： Nov. 24, 2009
Publication date： Jun. 03, 2010
Summary：
【課題】属性の階層構造、およびその階層の粒度を適切に設定することを可能とする能動計量学習装置などを提供する。【解決手段】本発明に係る能動計量学習装置100は、計量適用データ分析部200が、分析対象データ間の距離を計算する計量適用手段210と、分析対象データ間の距離を用いて所定の関数によりデータを分析しデータ分析結果を出力するデータ分析手段220と、データ分析結果を保存する分析結果記憶手段250とから構成され、計量最適化部300が、ユーザからのフィードバック指示からサイド情報を生成するフィードバック変換手段310と、生成されたサイド情報から所定の条件に基づいて最適化された計量行列を生成する計量学習手段330とから構成され、属性クラスタリング部500が、計量最適化部によって最適化された計量行列をクラスタリングして属性を構造化する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
分析対象データ間の距離について計算および分析を行う計量適用データ分析部と、前記分析対象データ間の相関および属性を最適化する計量最適化部と、前記分析対象データをクラスタリングする属性クラスタリング部とからなり、複数の属性を有する分析対象データをクラスタリングする能動計量学習装置であって、 前記計量適用データ分析部が、前記分析対象データと該データ間の距離を表すマハラノビス計量行列を入力として前記分析対象データ間の距離を計算する計量適用手段と、前記分析対象データ間の距離を用いて所定の関数によりデータを分析しデータ分析結果を出力するデータ分析手段と、前記データ分析結果を保存する分析結果記憶手段とから構成され、 前記計量最適化部が、前記分析対象データ間の相関および属性のいずれかまたは組み合わせからなるユーザからのフィードバック指示からサイド情報を生成するフィードバック変換手段と、前記生成されたサイド情報から所定の条件に基づいて最適化された計量行列を生成する計量学習手段とから構成され、 前記属性クラスタリング部が、前記計量最適化部によって最適化された計量行列をクラスタリングすることを特徴とする能動計量学習装置。
IPC (2)：
G06N 3/00 ,  G06F 17/30
FI (3)：
G06N3/00 560A ,  G06F17/30 210D ,  G06F17/30 220Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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