Pat
J-GLOBAL ID:201203092894287597
瞳孔の評価方法および評価装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
山崎 宏
, 田中 光雄
, 仲倉 幸典
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2011538796
Publication number (International publication number):2012510830
Application date: Dec. 04, 2009
Publication date: May. 17, 2012
Summary:
複数の刺激から成る少なくとも1つの刺激アンサンブルに対する瞳孔反応を測定することによって、被験者の神経系の一部の機能を評価するための方法とシステム。上記方法は、少なくとも1つの刺激アンサンブルから選ばれた個々の刺激のシーケンスを被験者の神経系に提示して、被験者の少なくとも1つの瞳孔に瞳孔反応を起こさせ、選ばれた個々の刺激は、シーケンス中で同時に提示され、刺激アンサンブル中の個々の刺激によって喚起される瞳孔反応が、上記個々の刺激によって喚起される神経反応の強さに応じて均衡させられるように、上記個々の刺激を夫々均衡させ、センサを用いて刺激で喚起された瞳孔反応を検出し、検出された瞳孔反応を、上記アンサンブルの幾つかまたは総ての刺激に対する被験者の神経反応の機能に関係づける。
Claim (excerpt):
被験者の神経系を評価するための方法であって、
被験者の少なくとも1つの瞳孔が反応するように適合させられた少なくとも1つの刺激アンサンブルから選択された個々の刺激のシーケンスを、被験者の神経系に提示するステップであって、上記刺激アンサンブルは、複数の個々の刺激からなり、選択された個々の刺激は、上記シーケンス中で同時に提示され、刺激アンサンブル中の個々の刺激によって喚起される瞳孔反応が、上記個々の刺激によって喚起される神経反応の強さに応じて均衡させられるように、上記個々の刺激を夫々均衡させるステップと、
センサを用いて上記刺激で喚起される少なくとも1つの瞳孔反応を検出するステップと、
検出された瞳孔反応を、上記アンサンブルの少なくとも2つの個々の刺激に対する被験者の神経反応の機能に関係づけるステップと
を備えた方法。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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神経機能の評価
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-540094
Applicant:ジ・オーストラリアン・ナショナル・ユニバーシティー
-
疎な刺激により神経機能を評価するための方法および装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2001-570175
Applicant:ジ・オーストラリアン・ナショナル・ユニバーシティー
-
脳機能検査方法とその装置、脳機能検査システム、脳機能検査サービス方法及びそのプログラムと装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-232376
Applicant:松下電工株式会社
-
視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-163394
Applicant:株式会社ニデック
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Cited by examiner (4)
-
神経機能の評価
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-540094
Applicant:ジ・オーストラリアン・ナショナル・ユニバーシティー
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疎な刺激により神経機能を評価するための方法および装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2001-570175
Applicant:ジ・オーストラリアン・ナショナル・ユニバーシティー
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脳機能検査方法とその装置、脳機能検査システム、脳機能検査サービス方法及びそのプログラムと装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-232376
Applicant:松下電工株式会社
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視野計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-163394
Applicant:株式会社ニデック
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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