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J-GLOBAL ID：201203097119566422

設備状態監視方法およびその装置並びに設備状態監視用プログラム

Inventor：
渋谷 久恵

About 渋谷 久恵

, 
前田 俊二

About 前田 俊二


Applicant, Patent owner：
株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス

About 株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス


Agent (1)： ポレール特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010237310
Publication number (International publication number)：2012089057
Application date： Oct. 22, 2010
Publication date： May. 10, 2012
Summary：
【課題】プラントなどの設備における異常予兆検知において、センサ毎に監視基準を設ける異常検出による異常判定の根拠の理解しやすさと、統計的な正常モデルに基づく高感度な異常検出とを両立させることは困難であった。【解決手段】設備あるいは装置に取り付けられたセンサから出力される設備あるいは装置の状態を示す時系列のセンサ信号および設備あるいは装置のイベント信号に基づいて設備状態を監視する方法において、センサ信号およびイベント信号を蓄積し、蓄積したセンサ信号およびイベント信号を統計的に解析して異常を検知し、異常を検知した結果に基づいて学習データを選定し、選定した学習データに基づいて異常を識別するためのルールを抽出し、センサ信号に異常を識別するためのルールを適用してルールベースによる異常識別を行い設備あるいは装置の異常を検知又は予知するようにした。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
設備あるいは装置に取り付けられたセンサから出力される前記設備あるいは装置の状態を示す時系列のセンサ信号および前記設備あるいは装置のイベント信号に基づいて設備状態を監視する方法であって、 前記センサ信号および前記イベント信号を蓄積し、 該蓄積した前記センサ信号および前記イベント信号を統計的に解析して異常を検知し、 該異常を検知した結果に基づいて学習データを選定し、 該選定した学習データに基づいて異常を識別するためのルールを抽出し、 前記センサ信号に前記異常を識別するためのルールを適用してルールベースによる異常識別を行い前記設備あるいは装置の異常を検知又は予知する ことを特徴とする設備状態監視方法。
IPC (1)：
G05B 23/02
FI (2)：
G05B23/02 302S ,  G05B23/02 301V
F-Term (3)：
5H223AA01 ,  5H223FF05 ,  5H223FF08
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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