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J-GLOBAL ID：201302215912752276   Reference number：13A0600993

3次元nanoESCAを用いたグラフェンデバイス構造の実空間界面電子状態分析

Author (17)： NAGAMURA NAOKA (東大 工) ,  NAGAMURA NAOKA (東大) ,  NAGAMURA NAOKA (JST-CREST) ,  TOYODA SATOSHI (東大) ,  TOYODA SATOSHI (JST-CREST) ,  KUROSUMI SHODAI (東大 工) ,  SHINOHARA TOSHIHIRO (東大 工) ,  HORIBA KOJI (東大) ,  HORIBA KOJI (JST-CREST) ,  OSHIMA MASAHARU (東大 工) ,  OSHIMA MASAHARU (東大) ,  OSHIMA MASAHARU (JST-CREST) ,  IDE TAKAYUKI (東北大 電通研) ,  FUKIDOME HIROKAZU (東北大 電通研) ,  SUEMITSU MAKI (東北大 電通研) ,  NAGASHIO KOSUKE (東大 工) ,  TORIUMI AKIRA (東大 工)
Material： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
Volume： 68  Issue： 1 第4分冊  Page： 961  Publication year： Mar. 05, 2013 
JST Material Number： S0671B  ISSN： 1342-8349  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： carbon material ,  nanostructure ,  *X-ray photoelectron spectroscopy ,  scanning electron microscope ,  electron microscopy ,  *interface (surface) ,  metal-semiconductor junction ,  *Graphite ,  *electronic state ,  charge transfer ,  distribution ,  binding energy ,  graphene ,  metal-semiconductor interface ,  electron distribution ,  Scanning Electron Microscopy
Semi thesaurus term： scanning electron microscopy

JST classification (4)： Semiconductor-metal contacts  (BM03084G) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D) ,  Atomic and molecular clusters  (BH09030O) ,  Localized electronic structure in crystals  (BM02090U)

Terms in the title (7)： 3次元 ,  グラフェン ,  デバイス構造 ,  実空間 ,  界面 ,  電子状態 ,  分析