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J-GLOBAL ID：201302225487014466   Reference number：13A0656960

Bent Si Reflector with DLC Deposition Developed for X-Ray Imaging Polarimetry

X線撮像偏光測定のために開発したDLC蒸着による湾曲Si反射体

Author (7)： AWAYAA Takashi (Chuo Univ.) ,  TOKUNO Atsushi (Chuo Univ.) ,  OKADA Kota (Chuo Univ.) ,  TSUBOI Yohko (Chuo Univ.) ,  IIZUKA Ryo (Chuo Univ.) ,  KUSUNOKI Shingo (Chuo Univ.) ,  MISUMI Kazuyoshi (Chuo Univ.)
Material： AIP Conference Proceedings  (AIP Conf Proc)
Volume： 1427  Page： 235-236  Publication year： 2012 
JST Material Number： D0071C  ISSN： 0094-243X  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (8)： X線撮像 ,  偏光測定 ,  開発 ,  DLC ,  蒸着 ,  湾曲 ,  Si ,  反射体