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J-GLOBAL ID：201302247378233356   Reference number：13A1839027

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry with energetic cluster ion impact ionization for highly sensitive chemical structure characterization

高感度化学構造特性評価のための高エネルギークラスタイオン衝突イオン化を用いる飛行時間二次イオン質量分析法

Author (5)： HIRATA K. (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  SAITOH Y. (Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Gumma, JPN) ,  CHIBA A. (Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Gumma, JPN) ,  YAMADA K. (Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Gumma, JPN) ,  NARUMI K. (Japan Atomic Energy Agency (JAEA), Gumma, JPN)
Material： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
Volume： 314  Page： 39-42  Publication year： 2013 
JST Material Number： H0899A  ISSN： 0168-583X  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *molecular structure ,  characterization ,  high sensitivity ,  cluster ion ,  collisional ionization ,  *secondary ion mass spectrometry ,  TOF ,  electrification (static charge) ,  chemical constitution

JST classification (1)： Mass spectrometry  (CC03013N)

Terms in the title (7)： 高感度 ,  化学構造 ,  特性評価 ,  高エネルギー ,  クラスタイオン ,  衝突イオン化 ,  飛行時間二次イオン質量分析