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J-GLOBAL ID：201302277837245679   Reference number：13A0081279

High Frequency Magnetic Near Field Measurement Using MFM

MFMによる高周波近傍磁界測定

Author (5)： ENDO YASUSHI (東北大 工) ,  FUKUSHIMA MASAAKI (東北大 工) ,  ARAI KAORU (東北大 工) ,  SHIMADA YUTAKA (東北大 工) ,  YAMAGUCHI MASAHIRO (東北大 工)
Material： 電気学会マグネティックス研究会資料  (電気学会研究会資料)
Volume： MAG-12  Issue： 169-180  Page： 19-24  Publication year： Dec. 20, 2012 
JST Material Number： Z0924A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *magnetic force microscope ,  HF ,  *magnetic field measurement ,  *magnetic sensor ,  magnetic probe ,  beat ,  amplitude modulation ,  coplanar waveguide ,  *microwave integrated circuit ,  *electromagnetic compatibility (interference) ,  *mobile terminal ,  portable telephone

JST classification (1)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Reference (13)：

• (1) A. Ishikawa: Zukai Keitaidenwagyokai Handbook Ver. 1 (in Japanese), pp. 10-185, Toyokeizaishinposya (2009)
• (2) International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS) 2010 Edition, p. 7 (2010)
• (3) K. Chuang, D. Yeh, F. Barale, B. Perumana, S. Sarkar, P. Sen, S. Pinel, J. Laskar: 2010 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 904 (2010)
• (4) M. Yamaguchi, Y. Endo, Y. Shimada, K. Arai: NICHe Seminar IEEE EMC Society Sendai Chapter Colloquim 1^st Joint Workshop (in Japanese), CEWS-1-3 (2011)
• (5) N. Ando, N. Masuda, N. Tamaki, T. Kuriyama, M. Saito, S. Saito, K. Kato, K. Ohashi, M. Yamaguchi: J. Magn. Soc. Jpn., 30, 429 (2006)

Terms in the title (3)： 高周波 ,  近傍 ,  磁界測定