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J-GLOBAL ID：200902212225405122   Reference number：06A0506632

Development of Miniaturized Thin-Film Magnetic Field Probes for On-Chip Measurement

オンチップ測定用の小型化薄膜磁場プローブの開発

Author (9)： ANDO N. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  MASUDA N. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  TAMAKI N. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  KURIYAMA T. (Kinki Univ., Wakayama, JPN) ,  SAITO M. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  SAITO S. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  KATO K. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  OHASHI K. (NEC Corp., Ibaraki, JPN) ,  YAMAGUCHI M. (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
Material： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
Volume： 30  Issue： 4  Page： 429-434  Publication year： Jul. 01, 2006 
JST Material Number： Z0944A  ISSN： 0285-0192  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *magnetic probe ,...

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JST classification (2)： Measuring methods and instruments of magnetism  (AD07060U) ,  Measuring methods and instruments of current,voltage,charge  (AD07020C)

Reference (8)：

• 1) T. Sudo, H. Sasaki, N. Masuda, and J. L. Drewniak: IEEE Trans. Adv. Packag., 27, 304 (2004).
• 2) M. Iwanami, S. Hoshino, M. Kishi, and M. Tsuchiya: IEEE Symp. EMC, 1, Boston, (2003), p. 347.
• 3) N. Masuda, N. Tamaki, T. Watanabe, and K. Ishizuka: NEC Res. &Develop., <b>42</b>, 246 (2001).
• 4) N. Masuda, N. Tamaki, T. Kuriyama, J. C. Bu, M. Yamaguchi, and K. I. Arai: IEEE Symp. EMC, 1, Boston, (2003), p. 80.
• 5) N. Tamaki, N. Masuda, T. Kuriyama, J. C. Bu, M. Yamaguchi, and K. I. Arai: Electronics and Communications in Japan, Part2, 88, 37(2005).

Terms in the title (5)： オンチップ ,  薄膜 ,  磁場 ,  プローブ ,  開発