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J-GLOBAL ID：201302294478557491   Reference number：13A1418996

Spectroscopic Ellipsometry Measurements for Liquid and Solid InSb around Its Melting Point

その融解点周辺での液体および固体InSbに対する分光偏光解析測定

Author (10)： KUWAHARA Masashi (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  ENDO Rie (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TSUTSUMI Kouichi (J.A. Woollam Japan Co., Inc., Tokyo, JPN) ,  MORIKASA Fukuyoshi (Thermo Riko Co., Ltd., Tokyo, JPN) ,  SUZUKI Michio (J.A. Woollam Japan Co., Inc., Tokyo, JPN) ,  SHIMA Takayuki (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  SUSA Masahiro (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  ENDO Tomoyoshi (Thermo Riko Co., Ltd., Tokyo, JPN) ,  TADOKORO Toshiyasu (Techno-Synergy Inc., Tokyo, JPN) ,  HOSAKA Sumio (Gunma Univ., Gunma, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 6  Issue： 8  Page： 082501.1-082501.4  Publication year： Aug. 25, 2013 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ellipsometry ,  solid (matter) ,  liquid ,  *indium antimonide ,  compound semiconductor ,  *melting point ,  complex index of refraction ,  semiconductor thin film ,  optical disk ,  resolving power ,  *dielectric function ,  *phase transition ,  metallicity ,  semiconductor
Semi thesaurus term： spectroscopic ellipsometry ,  超分解能

JST classification (1)： Phase transitions and critical phenomena in general  (BL04010V)

Terms in the title (5)： 融解点 ,  周辺 ,  固体 ,  InSb ,  分光偏光解析