肌評価方法及び肌評価装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山本尚
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2004375392
Publication number (International publication number)：2006180971
Patent number：4739746
Application date： Dec. 27, 2004
Publication date： Jul. 13, 2006
Claim (excerpt)：

【請求項1】指紋センサから入力された肌の画像を周波数分析し、その周波数分析の結果得られた前記肌画像の周波数特徴に基づいて前記肌の状態を判定する肌評価方法であって、前記周波数分析により、前記肌画像の基本周波数を前記周波数特徴として抽出し、当該基本周波数が予め定めた所定の閾値を超えている場合に前記肌の状態が良好であると判定することを特徴とする肌評価方法。

IPC (2)：

A61B 5/107 ( 200 6.01) , A61B 5/00 ( 200 6.01)

FI (2)：

A61B 5/10 300 Q , A61B 5/00 M

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特開平2-082947
シワの測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-263654 Applicant：株式会社資生堂
特開平4-305113

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