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J-GLOBAL ID:201303007876159298
ナノ構造を必要とせず半導体材料製の処理済層を利用したセーベック/ペルティ効果を利用した熱-電気変換装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
三俣 弘文
, 桂木 雄二
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2012520117
Publication number (International publication number):2012533185
Application date: Jul. 14, 2010
Publication date: Dec. 20, 2012
Summary:
【課題】効率の良いセーベック/ペルティ効果を利用した熱-電気変換装置を提供する。【解決手段】 本発明の熱-電気変換装置は、伝熱率の低い誘電体材料製の平坦な支持部材(1)と、前記支持部材(1)の主面上に堆積される、ドープした多結晶半導体材料製の層(3)と、(前記ドープした多結晶半導体材料製の層(3)の材料のバルク導電率は、1.0Ω-1cm-1以上であり、前記ドープした多結晶半導体材料製の層(3)には、インシチュ(in situ)で様々なエネルギーでイオン注入され、その濃度は、導電率を下げることなく、前記半導体材料中のフォノン散乱を低減させる程度であり)、一対の金属製接点(4,5)と、から構成される。前記一対の金属製接点(4,5)は、前記ドープした多結晶半導体材料製の層(3)の両側を外部回路に接続される前記一対の金属接点に一致する一対の主面は、異なる温度である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
セーベック/ペルティ効果を利用した熱-電気変換装置において、
(A) 伝熱率の低い誘電体材料製の平坦な支持部材(1)と、
(B) 前記支持部材(1)の主面上に堆積されるドープした多結晶半導体材料製の層(3)と、
前記ドープした多結晶半導体材料製の層(3)の材料のバルク導電率は、1.0Ω-1cm-1以上であり、前記ドープした多結晶半導体材料製の層(3)には、インシチュ(in situ)で様々なエネルギーでイオンが注入され、その濃度は、導電率を下げることなく、前記半導体材料中のフォノン散乱を低減させる程度であり、
(C) 一対の金属製接点(4,5)と、
前記一対の金属製接点(4,5)は、前記ドープした多結晶半導体材料製の層(3)の両側を外部回路に接続し、
を有し、
前記一対の金属接点(4,5)に対応する一対の主面は、異なる温度に設定される
ことを特徴とするセーベック/ペルティ効果を利用した熱-電気変換装置。
IPC (2):
FI (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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一方向凝固熱電結晶材料とその製造方法、これを用いた熱電素子とその製造方法、及び熱電モジュール
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-146627
Applicant:京セラ株式会社
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熱電変換材料及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-294989
Applicant:株式会社豊田中央研究所
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熱電変換素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-368597
Applicant:トヨタ自動車株式会社, アイシン精機株式会社
-
熱電変換材料とその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-063074
Applicant:住友特殊金属株式会社
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特許第5173433号
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