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J-GLOBAL ID：201303009622785540

自閉症診断支援方法およびシステム並びに自閉症診断支援装置

Inventor： 森 則夫 ,  鈴木 勝昭 ,  土屋 賢治 ,  新村 千江 ,  桜井 敬久 ,  徳谷 恵樹
Applicant, Patent owner： 国立大学法人浜松医科大学 ,  株式会社タイカ
Agent (1)： 河備 健二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011192387
Publication number (International publication number)：2013052116
Application date： Sep. 05, 2011
Publication date： Mar. 21, 2013
Summary：

【課題】従来から提案されている「視線検出技術」を用いて、特に乳幼児の自閉症に対して、客観的評価にもとづく、早期発見・早期確定診断の支援を可能とする自閉症診断支援方法およびシステム並びに自閉症診断支援装置を提供する。【解決手段】撮像カメラ部を少なくとも具備する視線検出ユニットを用いて、被験者の自閉症を診断する支援方法であって、錯視画像面として錯視画像を、被験者の視線先の表示体上に表示し、該視線検出ユニットを用いて、該錯視画像面を見る被験者の視線位置情報を検出した後、該被験者の視線位置情報を、視線位置情報記憶部に入力し、所定の自閉症診断支援アルゴリズムにより、該被験者の視線位置を評価することを特徴とする自閉症診断支援方法など。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

撮像カメラ部を少なくとも具備する視線検出ユニットを用いて、被験者の自閉症を診断する支援方法であって、 錯視画像面として錯視画像を、被験者の視線先の表示体上に表示し、 該視線検出ユニットを用いて、該錯視画像面を見る被験者の視線位置情報を検出した後、該被験者の視線位置情報を、視線位置情報記憶部に入力し、所定の自閉症診断支援アルゴリズムにより、該被験者の視線位置を評価することを特徴とする自閉症診断支援方法。

IPC (2)：

A61B 10/00 ,  A61B 3/113

FI (2)：

A61B10/00 H ,  A61B3/10 B

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 軽度知覚障害を測定するためのデバイスおよび方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2012-500022   Applicant：ジョセリン・フォベール, アルマンド・ベルトーネ
• 瞳孔の評価方法および評価装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2011-538796   Applicant：ジ・オーストラリアン・ナショナル・ユニバーシティー
• 瞳孔不規則性検出・瞳孔追跡・瞳孔反応検出機能、緑内障検査機能、角膜解剖学的測定機能、頭蓋内圧検出機能、および、眼異常測定機能を備えた瞳孔計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-171443   Applicant：ニューロプティックス・インコーポレイテッド