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J-GLOBAL ID：201303015678046731

非接触ストレス評価システムおよび非接触ストレス評価方法並びにそのプログラム

Inventor： 片寄 智之 ,  松井 岳巳 ,  後藤 眞二 ,  沼 直樹 ,  山田 忠幸 ,  井澤 晶一 ,  浅田 晴之 ,  高橋 卓也
Applicant, Patent owner： 公立大学法人首都大学東京 ,  株式会社タウ技研 ,  株式会社岡村製作所
Agent (6)： 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  渡邊 隆 ,  鈴木 三義 ,  西 和哉 ,  村山 靖彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011125730
Publication number (International publication number)：2012249884
Application date： Jun. 03, 2011
Publication date： Dec. 20, 2012
Summary：

【課題】被験者および作業者の負担を減らし、かつ客観的にストレスを評価することが可能な非接触ストレス評価システムを提供する。【解決手段】椅子に取り付けられると共に、椅子に着座する被験者の前方から当該被験者の腹部に向けて第1のマイクロ波を放射し、第1のマイクロ波の反射波に基づいて被験者の腹部の時間経過に応じた変位を計測する。そして、被験者の腹部の時間経過に応じた変位に基づいて被験者の呼吸数を検出し、その呼吸数に基づいて被験者のストレス評価を行う。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

椅子に取り付けられると共に、前記椅子に着座する被験者の前方から当該被験者の腹部に向けて第1のマイクロ波を放射する第1マイクロ波放射装置と、 前記第1のマイクロ波の反射波に基づいて前記被験者の腹部の時間経過に応じた変位を計測する腹部変位計測部と、 前記被験者の腹部の時間経過に応じた変位に基づいて前記被験者の呼吸数を検出する呼吸数検出部と、 を備えることを特徴とする非接触ストレス評価システム。

IPC (5)：

A61B 5/16 ,  A61B 5/024 ,  A61B 5/11 ,  A61B 5/08 ,  G01N 22/00

FI (7)：

A61B5/16 ,  A61B5/02 320Z ,  A61B5/02 320A ,  A61B5/10 310Z ,  A61B5/08 ,  G01N22/00 S ,  G01N22/00 X

F-Term (13)：

4C017AA02 ,  4C017AA14 ,  4C017AB10 ,  4C017AC40 ,  4C017BC11 ,  4C038PP03 ,  4C038SS08 ,  4C038SV01 ,  4C038VA04 ,  4C038VB25 ,  4C038VB28 ,  4C038VB33 ,  4C038VC20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平1-115344
  
• 非接触診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-284574   Applicant：株式会社タウ技研
• 非接触メンタルストレス診断システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-099025   Applicant：公立大学法人首都大学東京
• 乗員状態検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-085834   Applicant：マツダ株式会社
• 生体情報測定システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2009-202981   Applicant：株式会社産学連携機構九州