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J-GLOBAL ID:201303017395159648
顕微鏡
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (2):
古谷 史旺
, 森 俊秀
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2005065852
Publication number (International publication number):2006251209
Patent number:4766591
Application date: Mar. 09, 2005
Publication date: Sep. 21, 2006
Claim (excerpt):
【請求項1】 収差補正用のレンズ群を有する対物レンズと、
標本の内部に合焦するように前記対物レンズの合焦位置を設定する設定手段と、
前記対物レンズを介して前記標本への照明光入射角度を前記対物レンズの光軸に垂直に近くすることにより、前記標本の内部に薄層状の照明光を導入する導入手段と、
前記標本の観察時に、前記照明光の導入側の前記標本の表面から前記対物レンズの合焦位置までの光路長に関わる情報を取得する取得手段と、
前記収差補正用のレンズ群の収差補正量を調整する第1調整手段と、
前記薄層状の照明光が前記対物レンズの光軸に到達する導入位置を前記標本の深さ方向に調整する第2調整手段と、
前記光路長に関わる情報と、該光路長に基づいて決めた最適な前記収差補正用のレンズ群の収差補正量に関わる情報と、前記収差補正量に基づいて決めた最適な前記照明光の導入位置に関わる情報と、を関連づけて予め記憶する記憶手段と、
前記取得手段が取得した光路長に関する情報に基づいて前記記憶手段に記憶した前記情報を参照し、前記光路長に関する情報に関連づけられた前記収差補正量に関わる情報と前記照明光の導入位置に関わる情報とに基づいて、前記第1及び第2調整手段をそれぞれ制御する制御手段と、
を備えたことを特徴とする顕微鏡。
IPC (3):
G02B 21/06 ( 200 6.01)
, G02B 21/00 ( 200 6.01)
, G02B 21/24 ( 200 6.01)
FI (3):
G02B 21/06
, G02B 21/00
, G02B 21/24
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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光学系の薄層斜光照明法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-380967
Applicant:科学技術振興事業団
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光学系の薄層斜光照明法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-166887
Applicant:独立行政法人科学技術振興機構
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顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記装置を用いた観察方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-186769
Applicant:寺川進
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